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OXSAS XRF Software

FXEL-0021


Il s'agit d'un cours étape par étape sur la façon de créer une méthode à l'aide d'OXSAS. Il utilise de nombreuses images pour vous guider facilement à travers les nombreux paramètres du logiciel.


   


Ce que vous apprendrez :

Le but de ce cours est d'apprendre à mettre en place une méthode sur un spectromètre à fluorescence X avec le logiciel OXSAS. Ce cours contient toutes les informations importantes pour vous aider à configurer un étalonnage sur votre propre spectromètre - de la configuration d'une application à la correction de dérive jusqu'à un processus d'étalonnage complet.



Ce que vous obtiendrez :

• accès illimité à ce cours

• l'accès au forum de questions et réponses pour une assistance supplémentaire

• une attestation de réussite du cours



Exigences:
Vous devez avoir accès à un spectromètre XRF et une compréhension de base de l'analyse par fluorescence des rayons X (XRF). Si vous souhaitez en savoir plus sur XRF, nous vous recommandons de suivre d'abord notre cours "XRF Pratique et Facile".


Contenu de ce cours (exemple) :

·         Construire une méthode

·         Sélection des éléments

·         Conditions de mesure

·         Scans et profils d’énergie

·         Mesure Scans profils d’énergie

·         Investigation des spectres

·         Mesure des données du balayage

·         Recherche de pic

·         Sélection du pic

·         Ajustement du pic

·         Export des angles dans la méthode

·         Définition de la position du fond

·         Exporter la position du fond

·         2 positions de fond

·         Investigation du profile énergétique

·         Seuil et fenêtre

·         Control de la nouvelle méthode

·         Vérifier le nom d’affichage

·         Vérifier le PHD

·         Vérification tension, intensité et temps de comptage

·         Ajout de l’opérateur somme

·         Format de sortie

·         Ordre de mesure des éléments

·         Saisie des étalons

·         Mesure des étalons de calibration

·         Calibration

·         Mesure des données de calibration

·         Correction alpha empirique

·         Inclure et exclure des standards

·         Coefficients alpha théorique

·         Utilisation des coef. Alpha théorique

·         Superposition de lignes

·         Vérification des valeurs de calibration

·         Créer une correction de dérive

·         Moniteurs: Choix de lignes

·         Moniteurs: Temps de comptage

·         Moniteurs: Facteur Sigma

·         Measure des moniteurs

·         Association: Moniteurs/Méthodes



Enseignants de ce cours:


Dr. Rainer Schramm
Docteur chimiste et directeur général de FLUXANA® avec plus de 25 ans d'expérience en XRF.


Konstantin Brendgens
Chimiste formé et expert en étalonnage avec plus de 10 ans d'expérience dans l'installation et la formation d'étalonnages dans le monde entier


Veuillez nous contacter directement par e-mail (info@fluxana.com) ou par téléphone (+49 2821 48011 10) pour discuter des options de paiement. Après paiement, vous recevrez un code que vous pourrez saisir ci-dessous pour accéder au cours.


L'accès est limité à un utilisateur mais pas limité dans le temps.



Skill Level: Beginner