OXSAS XRF Software
FXEL-0021
Il s'agit d'un cours étape par étape sur la façon de créer une méthode à l'aide d'OXSAS. Il utilise de nombreuses images pour vous guider facilement à travers les nombreux paramètres du logiciel.
Le but de ce cours est d'apprendre à mettre en place une méthode sur un spectromètre à fluorescence X avec le logiciel OXSAS. Ce cours contient toutes les informations importantes pour vous aider à configurer un étalonnage sur votre propre spectromètre - de la configuration d'une application à la correction de dérive jusqu'à un processus d'étalonnage complet. |
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• accès illimité à ce cours • l'accès au forum de questions et réponses pour une assistance supplémentaire • une attestation de réussite du cours |
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Vous devez avoir accès à un spectromètre XRF et une compréhension de base de l'analyse par fluorescence des rayons X (XRF). Si vous souhaitez en savoir plus sur XRF, nous vous recommandons de suivre d'abord notre cours "XRF Pratique et Facile". |
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· Construire une méthode · Sélection des éléments · Conditions de mesure · Scans et profils d’énergie · Mesure Scans profils d’énergie · Investigation des spectres · Mesure des données du balayage · Recherche de pic · Sélection du pic · Ajustement du pic · Export des angles dans la méthode · Définition de la position du fond · Exporter la position du fond · 2 positions de fond · Investigation du profile énergétique · Seuil et fenêtre · Control de la nouvelle méthode · Vérifier le nom d’affichage · Vérifier le PHD · Vérification tension, intensité et temps de comptage · Ajout de l’opérateur somme · Format de sortie · Ordre de mesure des éléments · Saisie des étalons · Mesure des étalons de calibration · Calibration · Mesure des données de calibration · Correction alpha empirique · Inclure et exclure des standards · Coefficients alpha théorique · Utilisation des coef. Alpha théorique · Superposition de lignes · Vérification des valeurs de calibration · Créer une correction de dérive · Moniteurs: Choix de lignes · Moniteurs: Temps de comptage · Moniteurs: Facteur Sigma · Measure des moniteurs · Association: Moniteurs/Méthodes |
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Dr. Rainer Schramm Docteur chimiste et directeur général de FLUXANA® avec plus de 25 ans d'expérience en XRF. | |
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Konstantin Brendgens Chimiste formé et expert en étalonnage avec plus de 10 ans d'expérience dans l'installation et la formation d'étalonnages dans le monde entier |
Veuillez nous contacter directement par e-mail (info@fluxana.com) ou par téléphone (+49 2821 48011 10) pour discuter des options de paiement. Après paiement, vous recevrez un code que vous pourrez saisir ci-dessous pour accéder au cours.
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